X射線衍射方法是研究晶體結構的重要手段之一。高壓X射線衍射實驗中，樣品尺寸通常較小，且衍射幾何會受到高壓樣品腔（DAC）的限制，因此該實驗方法對對X射線光源有較高要求，即要求X射線源同時具備微焦點、高通量、高能量三大要素。同步輻射光源是目前高壓衍射實驗使用的主要光源，但其機時通常較緊張。隨著科學技術的發展，傳統的X光機得到了長足發展，不論光源強度還是焦點尺寸都已經滿足了高壓實驗的需要。實驗室所用的高壓X射線衍射儀在使用時間上不受限制，為科研人員開展高壓衍射實驗提供了巨大的便利。

本公司針對高壓 X 射線衍射技術，采用最先進的旋轉中心定位方法，成功研制出針對高壓實驗的專用X射線衍射儀，其獨特的設計可同時用于高壓粉末和高壓單晶兩種實驗，實現一機兩用。

• 1、高能微焦斑X射線源：同時具備焦斑尺寸小、光通量高、輸出波長短等特點，可大幅提升高壓衍射實驗的核心技術指標，即超高壓樣品環境、高數據通量以及低數據背景。

• 
  

• 高亮度銦靶X射線光源(波長：0.51 ?)不同模式下的參數如下：

• 高通量模式	焦斑大小	90 μm FWHM
  	通量	1.9 × 108 ph/s
  	發散度	3.15 mrad
  小焦斑模式	焦斑大小	15 μm FWHM
  	通量	1.8 × 107 ph/s
  	發散度	12.6 mrad
  特殊模式	焦斑大小	10 μm FWHM
  	通量	1× 106 ph/s
  	發散度	2 mrad

• 
  

• 微焦斑Ag靶模式下的參數如下：

• 焦斑大小	80 μm FWHM
  通量	1.5× 107 ph/s
  發散度	5 mrad

• 
  

• 2、大面積、單光子計數探測器：大面積探測器可在保證數據采集范圍的同時提高衍射數據分辨率。另外，配合短波長的光源大面積探測器也可以獲得更多的衍射峰數量，從而提高晶體結構的分辨率。配備CdTe傳感器的單光子計數型探測器，可大幅提高對短波長射線的探測效率并降低背景噪音，提高數據信噪比。

• 3、五維樣品臺：采用在國際上同步輻射實驗裝置所使用的先進旋轉中心定位法的基礎上，進行了優化，利用五維電動樣品位移臺，通過軟件操作，實現樣品掃描對中。該方法具有樣品到探測器距離固定不變、數據精確等優勢，避免用戶操作時輻照損傷。同時，該系統在增加相應的軟件后，可以進行高壓單晶 X 射線衍射實驗，實現一機兩用。

• 1、高壓下的結構相變、狀態方程、彈性、織構等研究；

• 2、涉及的材料包括高溫超導體、納米材料、超硬材料、礦物、大塊金屬玻璃、半導體、各種功能材料等；

• 3、應用領域包括物理、化學、地球/行星科學、材料等。