本產品為光學儀器（含X射線）的檢測配置高低溫原位樣品環境的專用測試臺，可實現-196~600℃的溫度調控，觀測和記錄材料隨溫度變化過程中產生的結構和形貌變化，結合光學儀器的檢測手段采集應變數據做定量分析。

本產品適用于材料學、生物化學、冶金學、有機化學、高分子及納米材料學針對材料特性的研究，與各種光學測試儀器或電子顯微鏡聯合使用，用戶可以自由設定溫度的階段變化，實現快速的加熱或冷卻樣品，在微觀上觀測材料的形貌變化，結合光學儀器的測試數據可對內部結構變化做定量分析。