X-射線反射測量法

X-射線反射測量法（X-ray reflectometry， XRR）是一種非破壞性的表面和界面分析技術。該技術可以測量薄膜的厚度、密度和粗糙度等表面性質參數，以及涂層、多層結構和薄膜與基底之間的界面。...

高壓X射線晶體學

高壓X射線晶體學是一種結合了X射線衍射技術和高壓技術的科學技術。通過對物質樣品施加高壓，研究人員可以改變材料的結構和性質，以探索其潛在的應用。...

X射線小角散射新進展——生物大分子：SAXS實驗方法的進展

在SAXS測試中，單色化、高準直性的X射線光束照射在通過樣品之后，會被溶解在溶劑中的大分子散射。這些分子通常不會像在晶體中那樣有著有序、靜態的周期性排列，而是隨機方向性地分布在溶劑中。...

X射線小角散射新進展——生物大分子：背景簡介

小角X射線散射(SAXS)是一種分析溶液中生物大分子整體結構及構性改變的重要方法之一。小角X射線散射通常用于探明蛋白質的折疊、相互作用以及靈活性，也可以研究大分子絡合物的結構以及對于外部條件變化的結構響應。...