如今，CD-SAXS（關鍵尺寸小角X射線散射）是下一代半導體制造的全行業測量技術。CD-SAXS由NIST研究人員Wen-Li Wu和Joe Kline開發，通過多項合作研發協議，在行業合作伙伴的幫助下，CD-SAXS從實驗室技術成熟為實際......
X射線無損檢測是一種用于檢測材料內部缺陷的技術，它在工程領域中應用廣泛。在制造過程中，材料可能會出現各種缺陷，如氣孔、裂紋、夾雜物等。這些缺陷會影響材料的性能和品質，導致產品在使用過程中出現故障或者完全失效。...
在工業領域中，X射線應力分析技術已經得到了廣泛的應用。這種技術可以幫助工程師們快速準確地檢測出材料或構件中存在的應力缺陷，進而幫助他們進行更加精確的結構分析和疲勞壽命評估。...
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